刊名： 电子测试
Electronic Test
主办： 北京自动测试技术研究所
周期： 半月
出版地：北京市
语种： 中文;
开本： 大16开
ISSN： 1000-8519
CN： 11-3927/TN
邮发代号： 82-870
复合影响因子： 0.528
综合影响因子： 0.272
历史沿革：
现用刊名：电子测试
曾用刊名：微电子测试
创刊时间：1994 |
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《电子测试》杂志投稿及征稿简则
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《电子测试》杂志是由北京自动测试技术研究所主办，通过邮局征订，面向全国发行，是专注于电子测试方面的科技类学术刊物。自创刊以来，《电子测试》一直受到研究所、企业的开发、生产、质检工程师和院校师生的喜爱。自2007年1期开始，《电子测试》的内容将更侧重于测试技术和产品解决方案。为了更加符合读者的需求，突出杂志的实用性、启发性、学习性、传播性，让《电子测试》真正成为读者案头的工具书，成为专业人士了解国内外测试行业最新发展趋势和最新热点的窗口。
本刊设计研发；电子科技；解决方案；智能应用；机械世界；数字时代；信息工程；行业动态；教育探索；学术交流；科技论坛等
投稿须知
1.文稿应具有科学性、前瞻性、逻辑性、实用性、指导性和可读性。
2.文稿务求论点明确，论据可靠，数字准确，重点突出，层次清楚，文字精炼，引用资料请附参考文献。全文（包括中、英文摘要、图、表和参考文献）撰写的文章字数以2500-4500字为宜。
3.作者单位负责审查稿件的真实性、保密性和未一稿两投。若属基金资助，或国家攻关项目，或获科技成果奖，或参加国际学术会议者，请注明并请附上有关证明材料。
4.投稿内容务必真实，请勿一稿两投或抄袭别人稿件，或私自发表别人的研究成果或资料，由此造成的一切后果，概由投稿人自负。
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本刊联系方式：
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